智能大樓綜合布線系統(tǒng)的測試

2023-06-25 10:51:57   admin    640

      一個布線系統(tǒng)的傳輸性能是由多種因素決定的:線纜特性、連接硬件、跳線、整體回路連接
數(shù)目,以及設(shè)計和安裝質(zhì)量。即使線纜和連接硬件都符合國際標(biāo)準(zhǔn),但由于在布線系統(tǒng)的設(shè)計和安裝過程
中加入了許多人為因素,必須對整個布線系統(tǒng)進(jìn)行全面測試,以證明布線系統(tǒng)的安裝是合格的。 
一、綜合布線鏈路的分類
  綜合布線鏈路在綜合布線系統(tǒng)中用量最大。占布線系統(tǒng)總布線90%比例的水平布線系統(tǒng),它分為雙
絞線布線鏈路和光纖布線鏈路。
  1.雙絞線布線鏈路
 ?、伲茫粒裕?。使用CAT3及同類別或更高器件(接插硬件、跳線、連接頭、插座)進(jìn)行安裝。第三
類連接鏈路的最高工作頻率為16MHz。
 ?、冢茫粒裕?。使用CAT4及同類別或更高器件(接插硬件、跳線、連接頭、插座)進(jìn)行安裝。第四
類連接鏈路的最高工作頻率為20MHz。
 ?、郏茫粒裕?。使用CAT5及同類別或更高器件(接插硬件、跳線、連接頭、插座)進(jìn)行安裝。第五
類連接鏈路的最高工作頻率為100MHz。
  ④寬帶鏈路。使用5E、6類纜及同類別器件(接插硬件、跳線、連接頭、插座)進(jìn)行安裝。寬帶鏈
路的最高工作頻率為200MHz~250MHz。
    所有上述回路中硬件的安裝,必須依據(jù)EIA/TIA-568A標(biāo)準(zhǔn)中UTP的安裝要求執(zhí)
行。
 ?。玻饫w布線鏈路
  樓宇內(nèi)水平布線和主干線鏈路使用多模光纖構(gòu)成時,在下述標(biāo)稱波長下,可提供傳輸數(shù)據(jù)使用的最高
帶寬為:850nm波長帶寬>100MHz;1300nm波長 帶寬>250MHz
  說明:這是指850nm波長光纖最小光學(xué)模式帶寬>100MHz;1300nm波長光纖最小光
學(xué)模式帶寬>250MHz。 
二、綜合布線測試連接方式定義
  1.水平布線測試連接方式
 ?、倩具B接方式
  基本連接是指通信回路的固定線纜安裝部分,它不包括插座至網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的末端連接電纜?;具B接通
常包括:水平線纜、雙端測試跳線。其中F≤90m,G和H≤2m。連接到測試儀上的連接頭不包括在
基本回路的定義中。
   說明:F-信息出口或轉(zhuǎn)接點和水平跳線之間的連接線;G-測試跳線;H-測試跳線
  ②通道連接方式
  通道連接是指網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的整個連接。通過通道回路測試,可以驗證端到端回路(包括跳線、適配器)
的傳輸性能。通道回路通常包括:水平線纜、工作區(qū)子系統(tǒng)跳線、信息插座、靠近工作區(qū)的轉(zhuǎn)接點及配線
區(qū)的兩個連接點。其中B+C≤90m、A+D+E≤10m。連接到測試儀上的連接頭不包括在通道回
路中。
  說明:A-工作區(qū)設(shè)備跳線;B-轉(zhuǎn)接線;C-水平布線;D-快接式或卡接式跳線;E-通信配線
架設(shè)備跳線;區(qū)域測試儀有Fluck、MicroTek的公司產(chǎn)品。
  ③水平布線光纖測試連接方式
  光纖鏈路長度只要在樓宇內(nèi)進(jìn)行,就不受嚴(yán)格限制。
  2.樓宇內(nèi)主干布線
  樓宇使用多模光纖、單模光纖和大對數(shù)銅纜布線均可,測試起點為樓層配線架,測試終點為樓宇總配
線架,主干鏈路長度<350m。大對數(shù)纜主干布線測試比較復(fù)雜,目前還在研究之中。 
三、測試參數(shù)和技術(shù)指標(biāo)
 ?。保p絞線系統(tǒng)的測試元素及標(biāo)準(zhǔn)
  ①連接圖。連接圖顯示了雙絞線的詳細(xì)情況。連接圖測試通常是一個布線系統(tǒng)的最基本測試,因而對
于3~5類布線系統(tǒng),都要求連接圖測試。
  ②線纜長度。3~5類布線系統(tǒng)都要求對線纜長度的準(zhǔn)確測試。對于線纜長度要求如下:
  基本回路線纜長度≤94m(包括測試跳線),通道回路線纜長度≤100m(包括設(shè)備跳線和快式
跳線)。
  ③衰減。由于集膚效應(yīng)、絕緣損耗、阻抗不匹配、連接電阻等因素,造成信號沿鏈路傳輸損失的能
量,稱之為衰減。衰減是針對“基本回路”/“通道回路”信號損失程度的量度。最壞線對的衰減應(yīng)小于
以下“基本回路”/“通道回路”允許的最大衰減值。
  注:⑴表中數(shù)值為20℃下的標(biāo)準(zhǔn)值,通道回路總長度為94米以內(nèi),基本回路總長度為100米以
內(nèi)?! 、茖嶋H測試時,根據(jù)現(xiàn)場溫度,對3類纜和接插件構(gòu)成的鏈路每增1度,衰減量增加1.5%。
 ?、菍嶋H傳輸時,根據(jù)現(xiàn)場溫度,對4類及5類纜和接插件構(gòu)成的鏈路每增1度,衰減量變化0.
4%,線纜走向靠近金屬表面時,衰減量增加3%。
 ?、芙舜羲p
  電磁波從一個傳輸回路(主串回路)串入另一個傳輸回路(被串回路)的現(xiàn)象稱為串音,能量從主串
回路串入回路時的衰減程度稱為串音衰減。在UTP布線系統(tǒng)中,近端串音為主要的影響因素。布線系統(tǒng)
都應(yīng)通過NEXT衰減的測試,而且NEXT衰減的測試必須從兩個方向進(jìn)行,也就是雙向測試。
   2.光纜布線系統(tǒng)的測試元素及標(biāo)準(zhǔn)
  樓宇內(nèi)布線使用的多模光纖,其中主要技術(shù)參數(shù)為:衰減、帶寬。
 ?、俣嗄9饫|和單模光纜鏈路的傳輸窗口
  注:⑴多模光纖:芯線標(biāo)稱直徑62.5/125um或50/125um,850nm波長時最大
衰減為3.5dB/km最小模式帶寬為200MHz.km;1310nm波長時最大衰減為1dB/
km最小模式帶寬為500MHz.km。
 ?、茊文9饫w:芯線符合IEC793-2,型號BI或ITU-t G.652標(biāo)準(zhǔn)。1310或1
550nm波長時最大衰減為1dB/km,截止波長應(yīng)小于1280nm;1310nm時色散應(yīng)≤6
ps/km.nm,1550nm時色散應(yīng)≤20ps/km.nm。
  ?、枪饫w連接硬件:最大衰減為0.5dB;最小反射衰減:多模20dB,單模26dB。
 ?、诠饫|布線鏈路在規(guī)定的傳輸窗口測量出的最大光衰減(介入損耗)應(yīng)不超過表5規(guī)定,該指標(biāo)已包
括鏈路與連接插座的衰減在內(nèi)。
四、測試條件
  為了保證布線系統(tǒng)測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠,對測試環(huán)境有著嚴(yán)格規(guī)定:
 ?。保疁y試環(huán)境
  綜合布線最小模式帶寬測試現(xiàn)場應(yīng)無產(chǎn)生嚴(yán)重電火花的電焊、電鉆和產(chǎn)生強(qiáng)磁干擾的設(shè)備作業(yè),被測
綜合布線系統(tǒng)必須是無源網(wǎng)絡(luò)、無源通信設(shè)備。
 ?。玻疁y試溫度
  綜合布線測試現(xiàn)場溫度在20℃~30℃之間,濕度宜在30%~80%,由于衰減指標(biāo)的測試受測
試環(huán)境溫度影響較大,當(dāng)測試環(huán)境溫度超出上述范圍時,需要按有關(guān)規(guī)定對測試標(biāo)準(zhǔn)和測試數(shù)據(jù)進(jìn)行修
正。
五、對測試儀表的性能和精度要求
 ?。保疁y試儀表的性能要求
  符合下述要求,按時域原理設(shè)計的測試均可用于綜合布線現(xiàn)場測試。
  ①在1~31.25MHz測量范圍內(nèi),測量最大步長不大于150kHz,在 31.26~10
0MHz測量范圍內(nèi),測量最大步長不大于250kHz,100MHz以上測量步長特定,上述測量掃
描步長的要求是滿足設(shè)計量和近端串?dāng)_指標(biāo)測量精度的基本保證。
  ②用于五類以下(含五類)鏈路測試,測量單元最高測量頻率極限值不低于150MHz。在0~1
00MHz測試頻率范圍內(nèi)應(yīng)能提供各測試參數(shù)的標(biāo)稱值和閾值曲線。
  用于高于五類的鏈路參數(shù)時,參數(shù)系統(tǒng)測量頻率應(yīng)擴(kuò)展至250MHz在0~250MHz參數(shù)頻率

范圍內(nèi)提供各測試參數(shù)的標(biāo)稱值和閾值曲線。
  ③每測試一條鏈路時間不大于25s,且每條鏈路應(yīng)具有一定的故障定位診斷能力。
 ?、芫哂凶詣印⑦B續(xù)、單項選擇測試的功能。
 ?。玻疁y試儀表的精度要求
  測試儀表的精度表示綜合布線電氣參數(shù)的實際值與儀表測量值差異程度,測試儀的精度直接決定著測
量數(shù)值的準(zhǔn)確性,用于綜合布線現(xiàn)場測試儀表至少滿足實驗室二級精度,具有向上溯源能力,測試儀本身
參數(shù)與參數(shù)頻率直接有關(guān)。光纖測試儀測量信號動態(tài)范圍≥60dB。
 ?。ǎ保y試判斷臨界區(qū)
  測試結(jié)果以“通過”和“失敗”給出結(jié)論,由于儀表存在測試精度和測試誤差范圍,當(dāng)測試結(jié)果處在
“通過”和“失敗”臨界區(qū)內(nèi)時,以特殊標(biāo)記如“*”表示測試數(shù)據(jù)處于該范圍之中,如圖4所示。測試
儀所具有的該臨界區(qū)范圍應(yīng)符合表7規(guī)定。測試數(shù)值處于該區(qū)時,即使報告“通過”,也應(yīng)視為已接近
“不通過”的危險邊緣,應(yīng)做為“不通過”處理。
 ?。ǎ玻y試接頭誤差補償
  由基本連接方式和通道方式可知,在定義鏈路時并未包括測試儀遠(yuǎn)、近兩端的接頭部分,但只要進(jìn)行
測試,這兩個接頭就會客觀存在,由前述測試NEXT可知,接頭是造成整個鏈路串?dāng)_NEXT的主要因
素。因此,解決測試儀接頭帶來的測試誤差問題,有兩種方法:
  一種是由測試儀制造方提供專用測試線;該測試線配用的纜線和接頭是特制的,這種特制測試線測試
時帶來的NEXT很小,但存在下述嚴(yán)重缺點:
 ?、僭摐y試線造價昂貴而且是易磨損的消耗器材;
 ?、谠谕ǖ肋B接方式,用戶末端線纜是要包括在鏈路之中的,無法由測試儀制造商給這些末端用戶線纜
一一配接專用插頭,故這種解決辦法僅僅對基本連接方式鏈路測試可行的通。
  另一種方法是采用近端串?dāng)_數(shù)字分析技術(shù)(TDX)的補償法,該方法能夠根據(jù)時域分析原理計算整
條鏈路各位置的NEXT值,可以準(zhǔn)確地找出定位在鏈路兩端的接頭所造成的NEXT值并從總測試結(jié)果
中予以扣除,對測試插頭帶來的影響有效地起到補償作用,克服了第一種方法的缺點,測試精度得到提
高。
六、測試程序
  在開始測試之前,應(yīng)該認(rèn)真了解布線系統(tǒng)的特點、用途,信息點的分布情況,確定測試標(biāo)準(zhǔn),選定測
試儀后按下述程序進(jìn)行:
 ?。保疁y試儀測試前自檢,確認(rèn)儀表是正常的;
 ?。玻x擇測試了解方式;
 ?。常x擇設(shè)置線纜類型及測試標(biāo)準(zhǔn);
 ?。矗危郑兄岛藴?zhǔn)(核準(zhǔn)NVP使用纜長不短于15米);
  5.設(shè)置測試環(huán)境濕度;
 ?。叮鶕?jù)要求選擇“自動測試”或“單項測試”;
 ?。罚疁y試后存儲數(shù)據(jù)并打印;
 ?。福l(fā)生問題修復(fù)后復(fù)測;
  9.測試中出現(xiàn)“失敗”查找故障。
七、測試結(jié)果應(yīng)報告的內(nèi)容
  除長度、特性阻抗、環(huán)路電阻等項測試外,其余各測試項都是與頻率有關(guān)的技術(shù)指標(biāo),測試儀測試結(jié)
果應(yīng)報告表中所規(guī)定的各項目,并按測試結(jié)果內(nèi)容說明規(guī)定做出報告。

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